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絕緣電阻功能計量專(zhuān)用變頻介質(zhì)損耗測試儀的正切值是什么


絕緣電阻功能計量專(zhuān)用變頻介質(zhì)損耗測試儀的正切值是什么一、使用說(shuō)明

1.1、主菜單

打開(kāi)電源開(kāi)關(guān),進(jìn)入主菜單(如圖5—1);選擇界面右邊相應的測試選項進(jìn)行測量。

※ 注:  儀器啟動(dòng)測試后,緊急情況若停止,只能按緊急停機,不要按復位。

1.2、一般測試

首先根據相應的接線(xiàn)提示接好儀器外部與被試品之間的連線(xiàn),然后點(diǎn)擊主界面“一般測試”選項,進(jìn)入下上等一般測試菜單(如圖52)。然后可以點(diǎn)擊“參數設置”進(jìn)去設置菜單(如圖53)進(jìn)行詳細的測試參數設置。

分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設置的項目,按“增加”“減小”或“選擇”來(lái)修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數并返回一般測試界面,點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。

相關(guān)參數設置好了后長(cháng)按“啟動(dòng)測試”單,進(jìn)入測試菜單。測試過(guò)程中電壓值一項是根據先前所選擇的測試電壓平滑上升至設置值后保持不變,然后自動(dòng)開(kāi)始測試。開(kāi)始測試后根據先前所選擇的測試頻率自動(dòng)變頻到各相應的頻率進(jìn)行測試,測試完成后自動(dòng)顯示測試結果(如圖54);測試結果自動(dòng)保存,可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結果。

   意:每一種測試的具體參數設置和接線(xiàn)方法請查看第六章“參考接線(xiàn)” 。


絕緣電阻功能計量專(zhuān)用變頻介質(zhì)損耗測試儀的正切值是什么1.3、CVT測試

首先根據相應的接線(xiàn)提示接好儀器外部的連線(xiàn),然后點(diǎn)擊主界面“CVT測試”選項,進(jìn)入下上等CVT測試菜單(如圖55)。然后可以點(diǎn)擊“參數設置”進(jìn)去設置菜單(如圖56)進(jìn)行詳細的測試參數設置。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設置的項目,按“增加”“減小”或“選擇”來(lái)修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數并返回CVT測試界面,點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回CVT測試界面。

相關(guān)參數設置好了后長(cháng)按“啟動(dòng)測試”單,進(jìn)入測試菜單(如圖57)。測試過(guò)程中電壓值一項是根據先前所選擇的測試電壓平滑至設置值后保持不變,然后自動(dòng)開(kāi)始測試。開(kāi)始測試后根據先前所選擇的干擾頻率自動(dòng)變頻到相應的頻率進(jìn)行測試,測試完成后自動(dòng)顯示測試結果(如圖58)。測試結果自動(dòng)保存,可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結果。

    意:每一種測試的具體參數設置和接線(xiàn)方法請查看第六章“參考接線(xiàn)” 。


絕緣電阻功能計量專(zhuān)用變頻介質(zhì)損耗測試儀的正切值是什么1.4、CVT變比測試

首先根據相應的接線(xiàn)提示接好儀器外部的連線(xiàn), 進(jìn)入CVT測試菜單在參數設置中選擇“CVT變比測試”,然后返回開(kāi)始測試界面(如圖59),長(cháng)按“啟動(dòng)測試”開(kāi)始測量(如圖510),測試完成后自動(dòng)顯示測試結果(如圖511)。測試結果自動(dòng)保存,可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結果。  

              

絕緣電阻功能計量專(zhuān)用變頻介質(zhì)損耗測試儀的正切值是什么1.5、正反同測

首先根據相應的接線(xiàn)提示接好儀器外部的連線(xiàn), 進(jìn)入正反同測菜單,在參數設置中選擇設置需要測試的高壓電壓,然后保存返回(如圖512),長(cháng)按“啟動(dòng)測試”開(kāi)始測量,測試完成后自動(dòng)顯示測試結果(如圖513)。測試結果自動(dòng)保存,可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結果。

1.6、LCR測試

首先根據相應的接線(xiàn)提示接好儀器外部與被試品之間的連線(xiàn),按照【正接法(常規接線(xiàn))】或者【反接法(常規接線(xiàn))】然后點(diǎn)擊主界面LCR測試”選項,進(jìn)入下上等LCR測試菜單。

然后可以點(diǎn)擊“參數設置”進(jìn)去設置菜單進(jìn)行詳細的測試參數設置。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設置的項目,按“增加”“減小”或“選擇”來(lái)修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數并返回一般測試界面,點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。長(cháng)按“啟動(dòng)測試”開(kāi)始測量,測試完成后自動(dòng)顯示測試結果(如圖514)。測試結果自動(dòng)保存,可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結果。

絕緣電阻功能計量專(zhuān)用變頻介質(zhì)損耗測試儀的正切值是什么1.7、絕緣測試

首先根據相應的接線(xiàn)提示接好儀器外部與被試品之間的連線(xiàn),然后點(diǎn)擊主界面“絕緣測試”選項,進(jìn)入下上等絕緣測試菜單。然后可選擇測試方式為正接法或反接法,選擇合適的測試電壓。設置好相關(guān)參數之后即可點(diǎn)擊下方“極化指數”“吸收比”“絕緣電阻”進(jìn)行測試。

1.8、數據查詢(xún)

在主菜單點(diǎn)擊“數據管理”進(jìn)入數據管理界面(如圖516),點(diǎn)擊“數據查詢(xún)”進(jìn)入。進(jìn)入數據存放菜單(如圖517)后,按上、下鍵移動(dòng)光標至想要查看的數據項目上,(儀器所保存的數據均是按照測量時(shí)間的先后所排列的,第000個(gè)數據即*新數據,第199個(gè)數據即*老數據。)再點(diǎn)擊相應的數據,進(jìn)入數據打印項目,在此菜單里面可以按上,下鍵翻頁(yè)至相應的數據序號上,可對數據進(jìn)行打印操作。

1.9、參數設置

打開(kāi)儀器后直接點(diǎn)擊“參數設置”進(jìn)入時(shí)間設置界面。進(jìn)入時(shí)間菜單(如圖5—18)后,點(diǎn)擊想要修改的時(shí)間數據項目上,然后再按增加、減小鍵調整相應的“時(shí)” 、“分” 、“秒” ,*后點(diǎn)擊保存修改時(shí)間設置,點(diǎn)擊取消退出設置并返回主界面。

※ 注:

所有圖片并非實(shí)物的全部描敘,請以實(shí)際儀器界面為主,僅做參考。

所有步驟在設置不當或想再次改變的情況下,均可按取消鍵返回上一步驟,如果按取消鍵不能實(shí)現返回。則可以直接按復位鍵退到主菜單重新開(kāi)始設置。

二、參考接線(xiàn)

(具體請參閱相關(guān)規程)

1、正接法

1、內電壓—內標準—正接法(電容常規接線(xiàn))

2、內電壓—正接法(絕緣電阻接線(xiàn))

3、內電壓—外標準—正接法(必須先設置好外接標準容量)

4、外電壓—內標準—正接法

5、外電壓—外標準—正接法(必須先設置好外標準容量) 

2、反接法

1、內電壓—內標準—反接法(常規接線(xiàn))

2、內電壓—外標準—反接法(必須先設置好外標準容量)

3、外電壓—內標準—反接法

4、外電壓—外標準—反接法(必須先設置好外標準容量)

3、CVT測試(注意:CVT測試時(shí)高壓線(xiàn)應懸空不能接觸地面,否則其對地附加介損會(huì )引起誤差。)

1、CVT同時(shí)測試

(一次完成測試)

2、CVT分別測試

(普通測試)

3、不拆高壓引線(xiàn)測試CVT電容值和介損測量模式:CVT自激法。電壓≤ 2kV

4、反接屏蔽法測量CVT上端C0的電容值和介損測量模式:反接法。電壓≤2kV

4、CVT變比測試

5、正反同測

三繞組變壓器CHG+CHL高壓線(xiàn)屏蔽接T繞組)

三繞組變壓器CLG+CLT(高壓線(xiàn)屏蔽接HV繞組)

三繞組變壓器CTG+CHT(高壓線(xiàn)屏蔽接LV繞組)

介質(zhì)損耗測試儀采用一個(gè)固體棒狀元件,它工作在一定頻率下,沿其軸向方向旋轉振蕩,傳感器只有一個(gè)暴露的元件,允許流體在傳感器表面自由的流動(dòng)。當該元件剪切流體時(shí),它將因粘度阻力變化而損失能量,損失的能量被電子線(xiàn)路檢測。由處理器轉換成可顯示的粘度讀數。

 

儀器為一體化結構,內置介損測試電橋,可變頻調壓電源,升壓變壓器和SF6高穩定度標準電容器。測試高壓源由儀器內部的逆變器產(chǎn)生,經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測試。頻率可變?yōu)?span lang="EN-US">45Hz或55Hz,55Hz65Hz,采用數字陷波技術(shù),避開(kāi)了工頻電場(chǎng)對測試的干擾,從根本上解決了強電場(chǎng)干擾下準確測量的難題。同時(shí)適用于全部停電后用發(fā)電機供電檢測的場(chǎng)合。該儀器配以絕緣油杯可測試絕緣油介質(zhì)損耗。

 

適用于固體電工絕緣材料如絕緣漆、樹(shù)脂和膠、浸漬纖制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、電纜料、薄膜復合制品、陶瓷和玻璃等的相對介電系數(ε)與介質(zhì)損耗角正切值(tgδ)的測試。本電極主要用于頻率在工頻50Hz下測量試品的相對介電系數(ε)和介質(zhì)損耗角正切值(tgδ)。本電極的設計主要是參照國標GB1409-2006。

 

介電特性是電介質(zhì)材料極其重要的性質(zhì)。在實(shí)際應用中,電介質(zhì)材料的介電系數和介質(zhì)損耗是非常重要的參數。例如,制造電容器的材料要求介電系數盡量大,而介質(zhì)損耗盡量小。相反地,制造儀表絕緣器件的材料則要求介電系數和介質(zhì)損耗都盡量小。而在某些特殊情況下,則要求材料的介質(zhì)損耗較大。所以,通過(guò)測定介電數(ε)及介質(zhì)損耗角正切(tgδ),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據。