1． 局部放電

局部放電是指在絕緣的局部位置放電，它并不構成整個(gè)絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內部放電（在介質(zhì)內部）、沿面放電（在介質(zhì)表面）、電暈放電（在電極**）。

2． 電荷量q

在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷量。

3． 視在放電量校準器

視在放電量校準器是一標準電量發(fā)生器，試驗前它以輸出某固定電量加之試品兩端，模擬該試品在此電量下放電時(shí)局部放電測試儀的響應，此時(shí)調整刻度系數，確定局部放電檢測儀的量程，以便在試驗時(shí)測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時(shí)以標準電量發(fā)生器比較后間接測出，而非直接測出，故此放電量稱(chēng)為“視在放電量”。

校正電量發(fā)生器是測量局部放電時(shí)必備的儀器，它的性能參數直接關(guān)系到測試結果的準確性。

視在放電量校準器由校準脈沖電壓發(fā)生器和校準電容串聯(lián)組成，其參數主要包括：脈沖波形上升時(shí)間、衰減時(shí)間、內阻、脈沖峰值、校準電容值等。

校準脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時(shí)間為從0.1U0到0.9U0的時(shí)間，衰減時(shí)間定義為從峰值下降到0.1U0的時(shí)間。

4．檢測阻抗

檢測阻抗是拾取檢測信號的裝置，在使用中，應根據不同的測試目的，被試品的種類(lèi)來(lái)選擇合適的檢測阻抗，以提高局部放電測量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。

檢測阻抗按調諧電容范圍分1～12號。（見(jiàn)表1）

5．時(shí)間窗(門(mén)單元)

時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號進(jìn)入峰值檢波電路而設計的一種電路裝置。因在實(shí)際試驗時(shí)，尤其是在現場(chǎng)做試驗時(shí)，不可避免地會(huì )引入一些干擾，所以，時(shí)間窗的使用更顯得重要。

時(shí)間窗的工作原理是把橢圓掃描時(shí)基分成導通(加亮區域)和截止(未加亮區域)兩部分,通過(guò)改變時(shí)間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導通(加亮區域)，干擾脈沖置于截止(未加亮區域)，此時(shí)儀表讀數即為放電脈沖數值，而干擾則不論大小，皆不會(huì )影響放電脈沖數值。若此時(shí)兩個(gè)時(shí)間窗同時(shí)關(guān)閉，則儀表讀數為整個(gè)橢圓上脈沖之峰值。

局部放電檢測儀技術(shù)參數

1．可測試品的電容范圍：6ｐF~250ｕF

2．檢測靈敏度及允許電流(見(jiàn)表1)。

3．橢圓掃描時(shí)基

(1) 頻率：50、100、150、200、400Ｈz

(2) 旋轉：以30度為一檔，可旋轉120度。

(3) 工作方式：標準－擴展－直線(xiàn)。

(4) 高頻時(shí)基橢圓的輸入電壓范圍：13~275Ｖ。

4．顯示單元

采用100×80mm矩形示波管，有亮度與聚焦調節旋鈕。

5．放大器

(1) 3dB低頻端頻fL：20、40KHz任選。

(2) 3dB高頻端頻率fH：200、300KHz任選。

(3) 增益調節：粗調6檔，檔間增益差10倍±5%。

(4) 細調范圍：＞10倍。

(5) 正、負脈沖響應不對稱(chēng)性：＜5%。

6．時(shí)間窗

(1) 窗寬：5度~150度(50Hz) 連續可調。

(2) 窗位置：每一窗可旋轉0度~170度。

(3) 兩個(gè)時(shí)間窗可分別或同時(shí)控制。

7、脈沖峰值表

(1) 線(xiàn)性指示：0~100誤差不大于5%。

(2)    指示：1~100誤差不大于5%。

表1  檢測靈敏度及輸入單元允許電流值

8、具有輔助識別放電脈沖相位的零標志系統。

9、工作電源  220V±10%   工頻

10、體積：440×430×180mm

11、重量：約15Kg

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